半導體高低溫試驗檢測箱根據(jù)試驗方法與行業(yè)標準可分為交變試驗、恒溫試驗，兩種試驗方法都是在高低溫試驗箱的基礎(chǔ)上進行升級拓展，高低溫試驗箱是指可以一次性將需要做的高溫、低溫以及所需做的溫度的時間設(shè)定在儀表參數(shù)內(nèi)，試驗箱會按照設(shè)定走程序，高低溫試驗箱就是在做一個固定的溫度，使試驗效果更接近自然氣候，模擬出更惡劣的自然氣候，從而使被測樣品的可靠性更高。

高低溫試驗箱內(nèi)箱容量包括80L、100L、150L、225L、408L、800L、1000L、2000L、3000L、4000L、5000L等

半導體高低溫試驗檢測箱滿足標準

1．GB 10589-89 低溫試驗箱技術(shù)條件

2. GB 10592-89 高低溫試驗箱技術(shù)條件

3. GB 11158-89 高溫試驗箱技術(shù)條件

4. GB/T5170.2-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度試驗設(shè)備

5. GB2423.1-89 電工電子產(chǎn)品基本試驗規(guī)程 試驗A:低溫試驗方法

6. GB2423.2-89 電工電子產(chǎn)品基本試驗規(guī)程 試驗B:高溫試驗方法

7. GB2424.1-89 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程

高低溫試驗檢測箱線性和非線性低溫控溫試驗箱的不同溫度變化速度，線性低溫控溫試驗箱是指加熱和冷卻的速度均勻，以及每個周期的速度相同。如果將某個時段的升溫速率設(shè)置為度/分鐘，則表示整個時段的升溫速率是每分鐘固定的，不會是每分鐘多少度，與各個時段的降溫速率相同。簡而言之，加熱和冷卻的速度由試驗箱儀器控制。非線性快速溫變試驗箱：開始升溫速度快，后期降溫越來越慢。如果在一個周期內(nèi)每分鐘加熱多少度，則表示該周期內(nèi)每分鐘加熱和冷卻的平均度數(shù)。非線性表示當升溫速率不受儀器控制時平均每分鐘的波動。

線性和非線性高低溫試驗檢測箱不同的升溫速率，線性快速溫變試驗箱溫度的升溫速率(實際上是第 5分鐘內(nèi)的平均速度)。事實上，對于溫度變化較快的試驗箱來說，保持線性升溫速率是最困難的。最關(guān)鍵的是下降速度的最后 5 分鐘，這是測試室可以達到的冷卻速度。

非線性快速溫變試驗箱的升溫速率是整個平均升溫速率(在試驗箱的溫度變化范圍內(nèi)，最高溫度與低溫度之差與時間之比)。目前國內(nèi)外環(huán)境試驗箱廠家生產(chǎn)的快速溫變試驗箱大多數(shù)均為非線性升溫速率。